США, Стэнфорд
Изобретение атомно-силового микроскопа
1986 год США,
Связь с другими материалами
События
☓
![]() Левый рисунок . СЭМ-фотография кантилевера, использующегося для контакта с образцом в атомно-силовой микроскопии. На тонкой балке помещен зонд, кончик которого (диаметром лишь несколько нанометров) приходит во взаимодействие с поверхностью образца. Кантилеверы изготовляют из кремния, нитрида кремния или полимеров путем химического травления. Правый рисунок . Принцип регистрации сигнала в методе атомно-силовой микроскопии. Лазерный луч отражается от кончика кантилевера и попадает в центр детектора, разделенного на 4 сектора. При приближении зонда, находящегося на кончике балки, к поверхности образца возникают силы притяжения или отталкивания, отклоняющие зонд. В качестве регистрируемого сигнала используется расстояние, на которое надо сдвинуть кантилевер, чтобы вернуть отклонившийся луч лазера в центральную точку Фото статьи: Вернуться в статью: Изобретение атомно-силового микроскопа |